标准分类号
中标分类号:电工>>输变电设备>>K46电力半导体期间、部件
关联标准
标准简介
本标准规定了普通整流管、普通晶闸管及其派生器件的高温阻断试验方法。 本标准适用于产品逐批检验、周期检验。本标准不适用于产品可靠性定级、维持等试验。 JB/T 5847-1991 高温阻断试验方法导则 JB/T5847-1991
标准内容
中华人民共和国机械行业标准
高温阻断试验方法导则
JB/T 5847-91
1 主题内容与适用范围
本标准规定了普通整流管、普通晶闸管及其派生器件(以下称产品)的高温阻断试验方法。本标准适用于产品逐批检验、周期检验。本标准不适用于产品可靠性定级、维持等试验。
2 引用标准
GB 4939 普通整流管
GB 4940 普通晶闸管
GB 3187 可靠性基本名词术语及定义
GB 2900.32 电工名词术语 电力半导体器件
GB 4936.1 半导体分立器件总规范
GB 2828 逐批检查计数抽样程序及抽样表
3 术语
3.1 高温阻断试验
在规定的时间内对产品施加规定的温度和PN结反向偏置电压的试验。
3.2 耐久性
产品在规定的使用和维修条件下,达到某种技术或经济指标极限时,完成规定功能的能力。
3.3 失效
产品丧失规定的功能。
3.4 失效模式
失效的表现形式。
3.5 失效机理
引起失效的物理、化学变化等内在原因。
3.6 早期失效
产品由于设计制造上的缺陷等原因而发生的失效。
3.7 筛选试验
为选择具有一定特性的产品或剔除早期失效而进行的试验。
3.8 耐久性试验
为考察产品的性能与所加的应力条件的影响关系而在一定时间内所进行的试验。
3.9 PN结
半导体P型区和N型区之间的结。
4 试验目的
筛选试验的目的是剔除早期失效的产品。耐久性试验的目的是考核产品在规定的条件下完成规定功能的能力。
5 电路原理
试验电路由试验主回路限流电阻、加热系统、试验回路等组成。
6 抽样数量
6.1 筛选试验抽样推荐按GB 2828规定的方案进行。
6.2 耐久性试验按GB 4939的3.2、GB 4940的3.2,或有关详细规范的规定进行抽样。
7 试验条件
7.1 试验电压
试验电压应按标准规定值或表2选取,变化范围应在规定值的±10%之内。
7.2 试验温度
筛选试验温度变化应符合表2规定,耐久性试验温度按相关标准规定。
7.3 试验持续时间
筛选试验的时间可按表2的值进行,耐久性试验的时间按标准规定。
8 试验设备、仪器、仪表
8.1 试验仪器的精度应不低于1.5级。
8.2 试验保护措施
试验时,加热装置应具备过热保护措施。
9 失效判据
9.1 失效判据见表3,判定失效的电参数,如漏电流、峰值电压等。
9.2 批试验不合格时,应按标准规定进行周期检验处理。
10 试验记录和试验报告
10.1 试验记录应完整准确,记录所有试验条件和结果。
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