中华人民共和国机械行业标准 JB/T7369-94 机械密封端面平面度 检验方法 本标准规定了机械密封端面平面度的检验装置、检验程序、平面度测定值的判读等内容。本标准适用于采用单色光源的光学法检验机械密封环端面平面度。 2 术语 2.1 干涉图 光波干涉产生的干涉条纹（亮带或暗带）所组成的图形。 2.2 干涉光谱带（光带） 干涉图上的暗带。 3 检验装置 3.1 推荐使用的检验装置结构见附录B（参考件）。 3.2 光源应为单色光源。 3.3 检验用光学平晶应为一级精度（其平面度应在0.02～0.10μm之间），光学平晶的直径应大于被检密封环端面的外径。 3.4 装置放置在干燥、洁净、避免振动干扰的工作间内。 3.5 装置要有一定的保护元件，避免光束直接照射到观察者的皮肤或眼睛。如果采用反光镜观察，应保证反光镜没有变形和失真。 4 检验程序 4.1 检验时，环境温度应控制在20±5℃。打开平面度检测仪的电源开关，预热至灯管充分发光。 4.2 清除被检密封环端面和光学平晶表面上的纤维、颗粒、油渍、水汽等污物，且使密封环端面和光学平晶表面不受损伤。 4.3 将被检密封环轻轻放置在光学平晶上（或将平晶轻轻放置在密封环上），使密封环端面和光学平晶紧密接触，判读光谱带数时不应使其受到附加外力的作用。 4.4 通过镜面观察密封端面的干涉图形（或透过光学平晶观察密封端面上的干涉图形），判读干涉光谱带。 5 平面度测定值的判读 5.1 平面度测定值的判读按附录A（补充件）的规定。对于附录A未含的图形，判读者应在正确理解应用光干涉原理的基础上，参照附录A的图例进行判读。 5.2 球形凸面和球形凹面的确定 5.2.1 观察干涉图由上向下移动眼睛，若干涉光谱带向圆心移动，则为球形凹面；若干涉光谱带向外径移动，为球形凸面。 5.2.2 将平晶放在密封环上，用手指轻轻地在平晶外边上加压，若干涉光谱带随着手指弯曲，则为球形凸面；若干涉光谱带向手指外弯曲，则为球形凹面。 5.3 平面度的测定值的计算公式为： 平面度的测定值 = 40.5 * N / (λ * A1 * A2)，其中N为干涉光谱带数，λ为单色光波波长。 附录 A 常见干涉光谱带图示例 （补充件） 图A1 一条光带图示 图A2 二条光带图示 图A3 三条光带图示 图A4 多条光带（>三条光带）图示 附录 B 推荐采用的检验装置结构示意简图（参考件） 推荐采用的检验装置结构示意简图见图B1。 图B1 检验装置结构示意图 本标准由机械工业部合肥通用机械研究所提出并归口，机械工业部合肥通用机械研究所负责起草。主要起草人：李小瓯、昌康、何玉杰、程传庆。 本标准由机械工业部机械标准化研究所出版发行。